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參數(shù)
二維X射線衍射有很多方面的應用，如物相分析、晶體結晶度測定、晶體的取向分析、薄膜厚度的測定等方面。實驗中使用二維探測器可記錄二維象、二維衍射花樣的數(shù)據(jù)進行處理分析和解釋。
優(yōu)勢：
1.X射線穿透深度連續(xù)可調
2.可觀察不同取向晶面的分布情況
3.纖維、薄膜、粉末等樣品的取向分布
4.晶格畸變、晶疇尺寸等結構特征的分析
探測器（近距影像圖片）
測試譜圖
氧化鈰粉末
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